Produkt- & Anwendungsneuigkeiten

Spectrum, unsere Fachzeitschrift erscheint viermal jährlich in deutscher Sprache und zweimal im Jahr in Europa in englischer Sprache. Wissenschaftliche, technische und "how to do"-Artikel stehen im Fokus und neue Produkte und Dienstleistungen werden vorgestellt. Wir erhalten immer wieder Zuschriften, die von der hohen wissenschaftlichen und anwendertechnischen Relevanz unserer Fachbeiträge zeugen - im Forschungs- und im Industriesektor gleichermaßen. Damit auch Sie von diesen Informationen profitieren, registrieren Sie sich bei uns! Sie erhalten das Spectrum dann automatisch. Es ist  kostenfrei und kann jederzeit wieder abbestellt werden.


Highlights aus der Ausgabe 151 (9/2018)


Ein neuer Meilenstein in der Desktop-Elektronenmikroskopie – Pharos

Mit dem neuen „Phenom Pharos“ stößt Thermo Fisher Scientific (seit Januar 2018 neuer Eigentümer des Herstellers Phenom-World B.V., Eindhoven/NL) die...

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AFSEM – korrelative REM- und AFM-Lösungen

Das AFSEM-System von GETec ist mit vielen kommerziellen Elek­tro­nen­mikroskopen (z.B. von FEI, JEOL, Hitachi, Zeiss, Tescan) kompatibel und erweitert...

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Themen in dieser Ausgabe



Elektronenmikroskopie

DENSsolutions veröffentlicht experimentelle Daten zum revolutionären MEMS-Nanochip

Die MEMS-basierten Nano-Chips basieren auf einem ausgeklügelten Design, welches atomare Untersuchungen im TEM bei vergleichsweise drastischen...

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Elektronenmikroskopie-Team – Hier treffen Sie uns in diesem Spätjahr

zum Beispiel auf der CISCEM (4. Internationale Konferenz für in-situ und korrelative Elektronenmikroskopie)

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Elektronenmikroskopie: Testen Sie Ihre eigenen Proben vor Ort – Herbst-Roadshow durch neun deutsche Städte

Die Teilnahme an unserer Roadshow ist kostenlos und unverbindlich. Die Veranstaltungen beginnen jeweils um 09.00 Uhr und enden gegen 15.00 Uhr.

Ist...

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Schnelles Finden und Beobachten der Indentation mit Ihrem REM und detailliertes Messen mit AFSEM

Die Kombination aus gro­ßem Blickfeld und Auflösung im Nano­meterbereich ermöglicht es bereits früh, Rissbildungen, Versetzungen und andere...

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Imaging

InGaAs-Detektoren – Weniger Rauschen im NIR

Die neuen großformatigen Xenics-De­tektoren zeigen einen um 50 % reduzierten Dunkelstrom.

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Marana – Die „Gottesgabe“

Mit 95% Quanteneffizienz und Vakuumkühlung bis -45 °C ist Marana das Nonplusultra in Sachen Em­pfind­lichkeit und hoher Dynamik bei sCMOS-Kameras.

 

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Specim IQ – mobile Hyperspektralanalyse im Feld und Gewächshaus

Hyperspectral Imaging hat schon vor Jahren Eingang in die landwirtschaftliche Forschung gefunden.

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Spurenelement-Analyse in Pflanzen mittels XRF

Ein großes Forschungsfeld innerhalb der Pflanzenforschung ist die Stei­ge­rung der Ertragsrate über die geneti­sche Modifizierung des Saatgutes, zum...

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Licht & Laser

Neues Radiometer zur Dosisbestimmung für UV-Durchlaufsysteme: ILT800 UV-Radiometer

Mit der neuen Gerätesoftware der ILT800-Serie können bis zu 1000 Messungen intern gespeichert werden.

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Life sciences

OCT – Tomographie für Sphäroide und Organoide

Bei Tomographie-Verfahren durchdringt elektromagnetische Strahlung ein zu untersuchendes Objekt.

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Materialwissenschaften

Einführung in die Breitband-FMR-Spektroskopie Teil 3 – Messbeispiele

Lesen Sie über "Filmqualität nach dem Nachglühen", über das "Extrahieren von MS, α und A von Legierungsfilmen" und über "Inverser Spin Hall Effekt...

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MPMS3-Anwenderworkshop – ein Rückblick

Sie konnten nicht dabei sein?

Kein Problem – wir senden Ihnen die Vorträge gerne zu.

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„PPMS goes Quantum Computing“ – Neuer Einsatz zum Test von QC-Chips

Quantum Design hat einen neuen Einsatz für das PPMS entwickelt – die Multi-Function-Probe (MFP) mit Chip-Carrier.

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Optiken

Darf ich mich Ihnen vorstellen? – Ihr neuer Ansprechpartner für optische Filter und Komponenten

Einige von Ihnen kennen mich möglicherweise schon durch meine langjährige Tätigkeit als Serviceleiter der Magnetometer- und Cryo-Abteilung.

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Spektroskopie

Apex Quick Release Presswerkzeuge für die XRF

Mit dem patentierten Mechanismus können die fertig gepressten Tabletten automatisch aus dem Werkzeug ausgestoßen werden.

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Termine

CompleteEASE-Software-Trainingkurs: Auswertung ellipsometrischer Messdaten

Vom 17. bis zum 19. Oktober bieten wir wieder einen Kurs zur Com­pleteEASE-Software an. Die Teilnehmer sollten über Erfahrung mit spektroskopi­scher...

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Ellipsometrie-Einführungsseminar 2018

Am 16. Oktober veranstalten wir wieder unser jährliches Ellipsometrie-Seminar.

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